Характериограф для тестирования компонентов схем

Описание: Применяя представленную схему характериографа, нет необходимости вынимать компоненты из схемы, один за другим, с целью их тестирования. Напряжения и токи, которые используются при тестировании, достаточно малы почти для всех собранных на полупроводниках схем. Компоненты могут испытываться на короткие замыкания и обрывы. Устройство с помощью подключаемого осциллографа позволяет наглядно тестировать переходы транзисторов и диодов в прямом и обратном направлении. Фигуры Лиссажу и другие комбинируе ...